Plate-forme de Caractérisation des Matériaux pour Applications Solaires
Equipements principaux:
- Mesure de la diffusivité thermique: LFA 457
- Mesure de la diffusivité en absolue de la température ambiante à 1100°C par méthode flash
- Possibilité de remonter à la conductivité par la relation:
- Il est possible avec cet appareil de remonter à la chaleur spécifique (Cp(T)) du matériau par la méthode comparative avec échantillonne référence et en ayant la table d'expansion thermique (Dilatomètre). Cette méthode est moins préside qu'un DSC mais la précision est tout de même de + ou - 3%
- Mesure de l’émissivité spectrale hémisphérique-directionnelle: SOC 100 + Nicolet 6700
- Mesures spectrales ( 1,5µm à 20µm):
- Réflectivité hémisphérique directionnelle
- Composantes diffuses et spéculaires de Transmitivité hémisphérique directionnelle
- Comportement diffus de la transitivité
- Emissivité spectrale directionnelle ε(θ,Φ)
- Absorptivité spectrale directionnelle α(θ,Φ)
- Emissivité total directionnelle ε(θ,Φ,T)
- Emissivité hémisphérique ε(T)
- Constante optique n ( λ ), k ( λ )
- Gamme de température : 20°C à 500°C
- Mesures spectrales ( 1,5µm à 20µm):
- Mesure de la réflectivité spectrale bi-directionnelle: CASI system
- Mesure à T° ambiant uniquement et monochromatique (633nm):
- BRDF
- Réflectivité hémisphérique totale
- BTDF
- Résolution de la diffusion angulaire
- Rugosité
- Appareil d’une rare précision et acquis par un laboratoire (Laboratoire des Matériaux Avancés) / confidentiel pour les industrielles.
- Mesure à T° ambiant uniquement et monochromatique (633nm):
